Agilent4156B半導體參數分析儀秋儀電子

4156B 是安捷倫的半導體參數剖析儀。半導體參數剖析儀是用于各種丈量功用的多合一東西。半導體參數剖析儀能夠丈量和剖析多種電子設備、資料、有源或無源元件、半導體或任何其他類型的電子設備的電氣特性。工程師運用這台測驗設備來監測不同類型設備中的電流和電壓呼應。附加的功用：

高分辨率准確度和寬規模。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

選用直流或脈沖模式的全主動 IV 掃描丈量，可擴展至 6 個 SMU

同步應力丈量功用，兩個高壓脈沖發生器單元 (±40 V)

時域丈量：60μs – 可變距離，最多 10,001 個點

易于運用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，主動剖析功用

主動化：內置 HP Instrument BASIC、觸發 IO 功用

設置丈量和或壓力條件

操控丈量和或壓力履行

履行算術核算

在 LCD 顯現屏上顯現丈量和核算結果

履行圖形剖析

存儲和調用丈量設置，以及丈量和圖形顯現數據

轉儲到打印機或繪圖儀以進行硬拷貝輸出

運用內置的 HP Instrument BASIC 履行丈量和剖析

自檢、主動校准

Agilent HP 4156B 是下一代精密半導體參數剖析儀。您將獲得最好的數字掃描參數剖析儀、可靠性測驗儀、功用強大的故障剖析東西和主動進貨檢測站，所有這些都集成在一台儀器中。

這個新系列通過清晰規劃，旨在爲評價您的亞微米幾何器材提供史無前例的精度和功用。運用一台靈敏的儀器，您能夠從資料評價和器材表征一直到最終封裝部件檢查和現場故障剖析，進步您的半導體質量。